LUM-F

LUM-F高精度微米光束的轮廓分析与测量
主要特点
1. 稳定的测量
2. 重复精度
3. 适配工艺的配置
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LUM-F

LUM-F 是专为满足不同工艺条件下光学检测需求而设计的 LUMOS 产品系列。

应用领域

  • 精密检测产线
  • 半导体工艺
  • 光学测量系统
产品规格LUM-F-DUVLUM-F-UVLUM-F-VISLUM-F-NIR
波长 [nm]240 - 355343 - 355485 - 570980 - 1064
分辨率 [Pixels]2848 X 2848 [8.1 MP]2856 X 2848 [8.1 MP]
像元尺寸 [µm]2.74 X 2.74
传感器尺寸 [mm]7.8 X 7.8
倍率X20X10X05
最小可测光斑尺寸Ø 3 µmØ 6 µmØ 14 µm
传感器类型 [快门方式]CMOS [Global Shutter]
电气规格10–28 V / Gigabit Ethernet / POE
LUM-F Data SheetLUM-F Data sheet.pdf
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